IC芯片設(shè)計(jì)中的靜態(tài)時(shí)序分析實(shí)踐

《IC芯片設(shè)計(jì)中的靜態(tài)時(shí)序分析實(shí)踐》深度介紹了芯片設(shè)計(jì)中用靜態(tài)時(shí)序分析進(jìn)行時(shí)序驗(yàn)證的基本知識(shí)和應(yīng)用方法，涉及了包括互連線模型、時(shí)序計(jì)算和串?dāng)_等影在內(nèi)的響納米級(jí)電路設(shè)計(jì)的時(shí)序的重要問(wèn)題，并詳細(xì)解釋了在不同工藝、環(huán)境、互連工藝角和片上變化（OCV）下進(jìn)行時(shí)序檢查的方法。詳細(xì)介紹了層次化塊（Block）、全芯片及特殊IO接口的時(shí)序驗(yàn)證，并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介紹。

《IC芯片設(shè)計(jì)中的靜態(tài)時(shí)序分析實(shí)踐》適合從事芯片設(shè)計(jì)和ASIC時(shí)序驗(yàn)證領(lǐng)域的專業(yè)人士，以及邏輯和芯片設(shè)計(jì)專業(yè)的學(xué)生和教師閱讀。不管是剛開始使用靜態(tài)時(shí)序分析，還是精通靜態(tài)時(shí)序分析的專業(yè)人士，本書都是優(yōu)秀的教材或參考資料。